NexION 5000G 多重四极杆 ICP-MS-
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NexION 5000G 多重四极杆 ICP-MS-

化学高分辨多重四极杆ICP-MS,四组四极杆质谱平台。
半导体(晶圆 / 光刻胶 / 电子特气)、高纯试剂、高纯稀土、高纯金属中的超痕量杂质(ppt–ppq 级) 检测

NexION 5000G 是珀金埃尔默面向半导体超净分析的多重四极杆 ICP‑MS,核心优势为超痕量检测(BEC<1 ppt)、SEMI S2/S8 合规、极低本底污染、适配高纯材料 / 晶圆 / 电子特气分析 **。




一、核心系统(多重四极杆)


  • 质量分析器:四组四极杆(Q0+Q1+Q2+Q3)
    • Q0:四极杆离子偏转器(防污染)
    • Q1/Q3:全尺寸四极杆,分辨率 < 0.7 amu(最优 < 0.3 amu)
    • Q2:四极杆通用池(动态带通调谐,消除复杂干扰)

  • 离子接口:第二代三锥接口(TCI)+ OmniRing™,锥后免维护
  • 射频发生器:34 MHz 自激式,LumiCoil™线圈空气冷却(无需水冷)


二、半导体级性能(超净版核心)


  • 背景等效浓度(BEC)<1 ppt(高温等离子体中)
  • 检出限(DL)≤0.1 ppt(典型半导体元素)
  • 线性动态范围10¹⁴(EDR 电子稀释技术)
  • 质量范围2–290 amu
  • 扫描速度:最短驻留时间10 μs
  • 本底污染<0.1 ppt(全元素),超净间适配
  • 干扰消除:NH₃/O₂/H₂/NF₃等反应气体,消除多原子 / 同质异位素干扰


三、进样系统(半导体专用)


  • 雾化器:PFA‑ST(耐 HF,低本底)
  • 雾化室:Fluoropolymer(低吸附)
  • 炬管2 mm 内径(高纯石英)
  • 样品流量100–1000 μL/min
  • 耐腐蚀性100% PFA / 石英材质,适配 HF/HNO₃体系


四、超净合规与环境


  • 认证:标配SEMI S2/S8(应急停止、安全联锁)
  • 洁净等级:**ISO 14644‑1 Class 1(Class 10)** 适配
  • 材质:全路径PFA / 石英 / 钛合金,无金属析出
  • 排气最大 4.3 m³/min(超净间排风适配)
  • 电源:单相 200V 20A×1;15A×1
  • 氩气≤20 L/min(纯度≥99.996%)


五、物理规格


  • 尺寸(宽 × 高 × 深)114 × 85 × 85 cm
  • 重量191 kg
  • 安装空间:≥2.5 m²(超净间标准)


六、软件与数据


  • 工作站:Syngistix™ v3.0(半导体专用模板)
  • 数据格式:符合SEMI E10/E14,可对接 Fab LIMS
  • 合规审计FDA 21 CFR Part 11、GMP支持


七、关键差异(5000G vs 标准 5000)


  • 5000G:超净材质、SEMI 认证、本底 < 0.1 ppt、高纯分析优化
  • 标准 5000:通用材质、无 SEMI、本底 < 1 ppt、环境 / 制药 / 食品应用
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